Compacto, poderoso, pronto para análise.
Tecnologia de ponta em microscopia eletrônica, projetada para laboratórios modernos
O MEV de bancada da Hitachi é um equipamento projetado para simplificar e aprimorar suas investigações nas áreas de materiais, mecânica, química, biologia e muitas outras. Mesmo que você não seja um especialista em microscopia eletrônica, permita-nos apresentar os motivos pelos quais essa é uma escolha excepcional para seu laboratório.
Nosso MEV de bancada é o resultado de anos de refinamento e avanços contínuos da empresa com mais de 80 anos de tradição em microscopia eletrônica. Agora na sétima geração, este sistema maduro atingiu um nível de qualidade que nos colocou como líderes mundiais e no Brasil em microscopia eletrônica de bancada. Com mais de 100 unidades instaladas em todo o país, você estará investindo em uma tecnologia testada e aprovada.
A família de microscópios da série TM4000 III oferece uma ampla gama de opções de tensão de aceleração, variando de 5kV a 20kV, em todos os modelos. Essa flexibilidade permite resultados de caracterização elementar ainda mais precisos com o auxílio da Espectroscopia de Dispersão de Energia (EDS). Isso significa que você pode obter insights detalhados sobre a composição dos materiais que está estudando.
Nosso modelo "Plus" vem equipado com um detector otimizado para elétrons secundários (SE) em baixo vácuo, oferecendo mais versatilidade em suas análises. Além disso, a combinação das imagens dos detectores BSE (elétrons retroespalhados) e SE em uma única imagem proporciona contrastes ricos em informações, mostrando tanto a topografia quanto os detalhes de peso atômico dos materiais.
Nossos MEVs possibilitam a integração de sistemas de Espectroscopia de Raio-X Dispersiva de Energia (EDS) dos principais fabricantes do mercado. Com um detector de grande área (30mm² a 65mm²), você obterá resultados de qualidade insuperável e alta resolução em suas análises de composição.
O modo de baixo vácuo da família TM4000 III, padrão de fábrica em todos os modelos, permite a visualização de amostras não condutoras sem a necessidade de recobrimento. Compatível com qualquer porta-amostra, essa funcionalidade amplia suas possibilidades de análise. Além disso, essa observação pode ser realizada tanto com o detector BSE quanto com o detector SE, especialmente projetado para utilização em baixo vácuo.
Diferente de outros equipamentos, nosso sistema de vácuo pode ser ativado imediatamente após ligar o MEV, eliminando qualquer espera. A transição entre os modos de alto vácuo e baixo vácuo é feita de maneira simples e rápida, com um único clique no software.
Para sua comodidade, a manutenção básica pode ser realizada por você mesmo, conforme orientações oferecidas durante o treinamento. Além disso, nossa tecnologia robusta minimiza a probabilidade de problemas, resultando nos menores custos de manutenção do mercado!
O sistema de navegação por câmera simplifica sua experiência, tornando a operação mais fácil. Combinado ao sistema de geração de relatórios, você terá uma ferramenta poderosa e de uso intuitivo para obter resultados excelentes.
Desenvolvido pensando na experiência do usuário, o TM4000 III simplifica processos complexos sem comprometer a qualidade.
O MEV vai além da imagem: transforme amostras em dados quantitativos

MEV e EDS integrados para identificar, classificar e quantificar minerais e materiais automaticamente: mapas minerais, liberação, análise de partículas e dados abertos.
Conhecer o AMICS →.png)
O TM4000 III pré-configurado para partículas: tamanho e forma com o Image-Pro AI, composição de cada partícula com o Feature no EDS Bruker ou Oxford.
Conhecer o pacote →Encontre-nos nos principais eventos científicos e tecnológicos
O encontro anual da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, que reúne a comunidade de pesquisa em materiais do Brasil e do exterior.
Local: Fortaleza - CE
A principal feira de química analítica da América Latina, com instrumentação, controle de qualidade e soluções para laboratório.
Local: São Paulo Expo, São Paulo - SP
Site do evento →O congresso da Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise, ponto de encontro da comunidade de microscopia do país.
Local: Campinas - SP
Materiais técnicos, catálogos e outros links
Especificações detalhadas, dimensões e características técnicas do TM4000 III.
Download PDF (4.7MB)Uma plataforma de software inteligente que simplifica análises complexas.
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Acessar PortalMineralogia automatizada Hitachi + Bruker: modos de aquisição, aplicações e especificações (em inglês).
Download PDF (5.4MB)Além do MEV de bancada, a dpUNION oferece estas soluções. Quer saber mais sobre alguma delas? Fale com a gente.
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